IT-gestützte White-Spot-Analyse

Potenziale von Patentinformationen am Beispiel Elektromobilität erkennen. Hrsg.: Fraunhofer IAO, Stuttgart

Yvonne Siwczyk

2/2010
2010. 65 S. m. zahlr. Abb.


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Weiße Flecken auf geografischen Landkarten waren über Jahrhunderte hinweg Impulsgeber für technologischen Fortschritt. Auch heute noch suchen Forscher und Entwickler nach weißen Flecken auf der "Landkarte" technischer Innovationen - im Rahmen sogenannter Patentdatenanalysen. Die vorliegende Studie stellt in drei Kapiteln Methoden und Werkzeuge vor, mit deren Hilfe aus Patenttexten Potenziale für die Märkte von morgen extrahiert werden können. Die IT-gestützte White-Spot-Analyse des Fraunhofer IAO bietet dabei über gängige Analysemethoden hinaus die Möglichkeit, technische "White Spots" automatisiert aus Patenttexten zu extrahieren und diese an Hand wirtschaftlicher Daten auf ihre Potenziale für ein Unternehmen zu untersuchen. Abgerundet wird die Vorstellung der White-Spot-Analyse durch ein Praxisbeispiel zum aktuellen Thema Elektromobilität, speziell Batteriemanagementsystemen für Elektrofahrzeuge. Die Studie richtet sich an Unternehmen, die nach neuen Produktideen und Märkten suchen sowie IP-Management-Experten.

Verschiedene Formen der Patentdatenanalyse sowie Softwarelösungen hierfür werden in der Studie vorgestellt. Die vorgestellte White-Spot-Analyse des Fraunhofer IAO bietet über Text-Mining-Methoden die Möglichkeit, eine Problem-Lösungs-Matrix zu extrahieren, sowie diese unter wirtschaftlichen Gesichtspunkten auf attraktive F&E-Felder zu untersuchen. Skizziert wird die Methode am Praxis-Beispiel Elektromobilität, speziell Batteriemanagementsystemen.

Titel zum Thema:
Informationstechnologie  Patent